上海采川自动化科技有限公司
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OD2-N85W20C0德国SICK位移测量传感器
OD2-N85W20C0德国SICK位移测量传感器
OD2-N85W20C0德国SICK位移测量传感器
产品系列 OD Mini
轻松X测量
紧凑型、坚固的外壳
单X使用或与 OD Mini 评价单元一起使用
设备上配备显示器和 LED，可对当前状态进行可视化显示
提供各种接口
通过显示屏或外部示教输入可进行简单培训
用于快速和X测量的 CMOS 接收单元，其测量精度在 µm 范围内
各种测量范围：从 10 mm 至 250 mm 均可进行测量
OD Value
产品系列 OD Value
简单、准确测量
多种测量范围：从 26 mm ... 34 mm 至 100 mm ... 500 mm
借助 CMOS 接收元件实现非常准确、不受表面限制的测量
简单、基于 LED 的操作或示教方案
凭借大量的标准接口实现丰富的产品多样性
用于X测量极小物体的激光技术
紧凑的X立式设备
卓越的性价比
OD Max
产品系列 OD Max
两个传感器集成于一个评价单元：非常准确地进行测量和计算
多种测量范围：从 24 mm ... 26 mm 至 250 mm ... 450 mm
使用 CMOS 接收元件进行不受表面限制的测量
高测量频率和高线性度
用于两个传感器进行计算的不同计算公式
用于极准确测量和识别极小的物体的激光技术
多种输出方法
OD Precision
产品系列 OD Precision
高精度确定所有尺寸
多种测量范围：从 24 mm ... 26 mm 至 300 mm ... 700 mm
使用 CMOS 接收元件进行不受表面限制的测量
X高测量准确度和测量频率
仅使用一个传感器头进行玻璃厚度测量
不同的光点尺寸
多达三个传感器的集成式计算
通过 RS-422 X立使用
Profiler
产品系列 Profiler
一条线胜于一个点
只使用一条激光束就能测量复杂的轮廓
可同时分析X多四个区域
通过十个集成的测量功能，如高度、宽度和倾斜度
设备中的传感器头和评价单元
通过软件或带操作元件的集成显示屏进行调试
高质量的 CMOS 接收单元
OD1000
产品系列 OD1000
用于远距离X测量的解决方案
长达 1 m 的大测量范围
OLED 显示器或 SOPAS 配置软件方便进行设置
无需外部放大器单元的X立式设备
坚固的金属壳体
可调节模拟量输出 (mA/V) 和采用 IO-Link 的推挽开关量输出
不受颜色或表面影响的X测量
多种安装方式
OD5000
产品系列 OD5000
性能强大的测量专家
高达 80 kHz 的测量频率
采用TCP/IP 协议的以太网接口直接内置于传感器头
用于设置参数的 Web 服务器界面
创新型评价算法
在定位任务中提供极高的重复精度
识别和测量极微小的凹陷或孔眼
产品系列 OC Sharp
X高精度的彩色共焦测量技术
多种测量量程：从 600 µm 至 12 mm
X大可靠性和精度的彩色共焦传感器技术
至 4,000 Hz 的快速测量频率
可靠测量极为不同的材料和颜色
只使用一个传感器头就能测量透明材料的厚度（用于大于 30 µm 层厚度的彩色共焦以及用于大于 3 µm 层厚度的干扰测试仪）。
用于测量X小物体的极小光点
通过 OC Sharp 软件舒适地进行参数设置
