X探测器S100,XR-100CR,X-123维修。东莞聪慧仪器提供X的电路维修,探头修理,分辨率达到w,维修天瑞探测器各种品牌类型SDD,SI-PIN,铍窗厚度达0.001,真空度达到000X,全进口的前置探头部件,是工厂,设备厂家必备核心部件,如果,有需要可以找我们维修此类零件,价格低,质量高,欢迎来电咨询东莞聪慧仪器。
- 仪器详情
X-123——封装于可手持小金属盒内的完整X射线探测系统。
RoHS/WEEE标准X射线荧光分析测试中使用的理想系统。
无需液氮。
图1。
图2。
图3. 6mm2/500µm(探测器X面积/厚度)的探测器得到的
55Fe能谱。
包含:
1. X射线探头和前置放大器(前放);
2. 数字脉冲处理器和多道分析器;
3. 电源和PC接口。
产品特性:
1. 紧凑的一体化设计;
2. 易操作;
3. 体积小(2.7 x 3.9 x 1英寸,7 x 10 x 2.5厘米);
4. 低功耗(2.5W);
5. 重量轻(180克,6.3盎司);
6. USB和RS232通讯支持;
7. 可封装全系列的AMPTEK探测器。
应用范围:
1. X射线荧光谱仪;
2. 执行RoHS/WEEE标准检测的仪器;
3. 流程控制;
4. 艺术和考古;
5. X-123产品演示。
探测器:
1. Si-Pin半导体X射线探头;
2. 两X热电制冷;
3. 面积:6-25mm2;
4. 厚度:300-500µm;
5. 多层准直器。
典型性能参数:
1. 分辨率:在5.9keV能量出的半高全宽为145到230eV;
2. 适用能量范围:1-40keV;
3. X大计数率:可达每秒两百万计数。
4. 实际的性能参数取决于不同的探测器和配置,可以为不同应用进行X化。
X-123是代表Amptek 公司14年X射线探测器技术发展的集大成产品。我公司一直致力于生产小型、低功率、高性能、易操作的仪器,而X-123是该宗旨的集中体现——X-123包含有 XR100-CR型X 射线探测器及其电荷灵敏前放,带脉冲整形功能的数字脉冲处理器 DP5,多道分析器和数据接口以及PC5供电电源。用户仅需提供+5V直流输入和USB/RS232线缆和您的计算机通讯。
X-123产品介绍:
Amptek公司专注于生产小型、低功耗、高性能和易操作的X射线光谱仪。X123将Amptek公司的高性能X射线光谱分析元件产品集成在一个X立的盒体内,这些元件包括:XR100CR探测器和前放,DP5数字脉冲处理器和多道分析器以及 PC5电源。这样的一体化系统更适合手持操作。而市场上销售的其它谱仪系统,仅前置放大器就比X123谱仪更大、更重,而且更耗能。而X123额外需要的只有两根线缆连接:电源线(+5V 直流电)和数据线(USB 或 RS232)。任何人都能利用X-123方便快捷地得到高质量的X射线能谱。
该系统的核心部件是一个 Si-PIN光电二极管:X射线与硅作用,在硅中平均每损耗3.62 eV的 X射线能量便产生一个电子/空穴对,即为输入信号。
探测器以及输入场效应管(FET)均安装在一个热电致冷器上,并与一个定制的电荷敏感前放相连。热电致冷技术的应用缓解了探测器和前放上的电子学噪声问题,其工作原理与大家比较熟知的空调制冷比较类似;电荷敏感前放则采用了一种新型的反馈技术,即通过高压连接向探测器输入复位脉冲。
DP5是一个数字脉冲处理器,可代替现今大多数模拟信号系统中采用的成形放大器和多道分析器(MCA)。数字技术的应用改善了诸多关键参数:
1. 性能更佳,尤其是在高计数率时有更好的分辨率和性能;
2. 有更多的配置方案可选,因此使用范围较广,具有较大的灵活性;
3. 用户可利用RS-232 接口和配套软件控制,选择配置方案;
4. 稳定性和可重复性更好。
DP5 将前放的输出信号数字化,并对信号进行实时处理,测定峰值(即数字化),然后将这些数值存储于寄存器中,并生成能谱图,X后谱图通过DP5的接口传送到用户的计算机上。Amptek DP5处理器主要有 6个功能模块来实现上述程序:
1. 模拟信号预滤波器;
2. 模数转换器(ADC);
3. 数字脉冲整形器;
4. 脉冲选择逻辑单元;
5. 寄存器单元;
6. 硬件接口(包括一个微控制器)和配套软件。
系统电源采用的是 Amptek公司的PC5模块(结构简单,单块电路板)。输入为电压约为+5V,电流为200mA的直流电。PC5中利用开关电源为数字处理器和前置放大器提供它们所需的直流低电压,同时它还包含了一个高压倍增器以产生探测器所需要的400V的高偏压,并闭环控制热电制冷器以提供达85℃的温差。另外在出厂前会针脚对配套探测器进行所有电源输出调试。
整个系统被封装在一个7 x 10 x 2.5 cm3的铝盒中,探测器安装于加长管的前端。在标准配置下,仅需两条连接线:电源线(+5V 直流电)和数据线(USB 或 RS232)。当 X123 与其他仪器配合使用时,DP5电路板上还可集成更多的输入/输出:一个 MCA 门,一个缓存选择信号、同步输出和 SCA 输出。详情请联系Amptek公司或查阅DP5说明书。
图4. X-123架构和接线图。
X-123参数说明:
系统性能 |
能量分辨率 | 在5.9 keV能量处半高全宽为145-230 eV。 具体数值因探测器、峰化时间和温度的不同而不同。 |
可探测能谱范围 | 在1.5-25keV能量范围中X射线探测效率>25%。 X过该能量范围则探测效率会有一定下降。 |
X大计数率 | 受峰化时间影响。开启堆积判弃功能时, 50%空载时间下推荐的X大计数率如下表。 DP5 峰化时间(µs) | 2.4 | 6.4 | 25.6 | 成形时间(µs) | 1.0 | 2.9 | 11.6 | 推荐的X大计数率 | 1.2x105 | 4.6x104 | 1.2x104 |
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探测器和前放 |
探测器类型 | Si-PIN,SDD或CdTe。 |
探测器面积 | 6 mm2-25 mm2。 |
探测器厚度 | 300 µm和500 µm,点击此处查看效率曲线。 |
铍窗厚度 | 1mil(25µm)或0.2mil(12.5µm),点击此处查看透射曲线。 |
准直器 | 多层,点击此处查看更多信息。 |
热电致冷 | 两X。 |
前放类型 | AMPTEK公司为用户定制的可利用高压连接复位的前放。 |
脉冲处理器 |
增益 | 结合使用粗调和微调增益可获得从0.84到127.5连续可调的所有增益。 |
粗调增益 | 通过软件可选从1.12到102的共16个对数档: 1.12,2.49,3.78,5.26,6.56,8.39,10.10,11.31, 14.56,17.77,22.42,30.83,38.18,47.47,66.26,102.0。 |
微调增益 | 从0.75到1.25,通过软件可选,10bit精度。 |
X大刻度 | 增益为1时输入脉冲为1000 mV。 |
增益稳定性 | <20 ppm/℃(典型情况)。 |
脉冲形状 | 梯形。 |
峰化时间 | 通过软件可选0.8到102µs间的24个峰化时间, 近似对数间隔,相当于0.4至45 µs的半高斯成形时间。 |
空载时间 | 总的空载时间为1.05倍的峰化时间,无转换时间。 |
脉冲对分辨时间 (快通道) | 120 ns |
多通道分析器 |
通道数 | 通过软件可选:8k,4k,2k,1k,0.5k或0.25k道。 |
预设值 | 时间,总计数,感兴趣能区(ROI)计数,单道计数。 |
数据传输 |
USB | 全速2.0 (12Mbps) |
串口 | 标准RS232接口(115.2k或57.6 k波特) |
以太网 | 10BASE-T标准(10Mbps,双绞线) |
电源 |
标准输入 | 一般情况下输入为+5 V,500mA直流电(2.5W); 而电流和探测器温差ΔT强相关,300-800mA可变; 另外配有交流电源适配器。 |
输入电源范围 | 4 V-6 V(300-200 mA,X大500 mA)。 |
高压电源 | 内置倍增器,可达 400 V。 |
制冷器 | 闭环控制器,温差X大为ΔTmax =85℃。 |
常规参数和工作环境 |
工作温度 | -20℃到+50℃。 |
保修期 | 1年。 |
典型寿命 | 视实际使用情况,一般为5至10年。 |
仓储和物流 | 长期存放:干燥环境下10年以上; 一般的仓储和物流:-20℃到+50℃,10%到90%的湿度,无凝结。 |
标准检测 | 符合RoHS标准。 |
| TUV认证: 认证编号:CU 72101153 01; 检测于:UL61010-1:2009 R10.08; CAN/CSA-C22.2 61010-1-04+GI1。 |
连线 |
USB | 标准USB Mini接口 |
RS232 | 标准2.5 mm立体声耳机接口 尖端 | 发送数据 | 电脑DB9针脚2(DB25针脚3) | 环 | 接收数据 | 电脑DB9针脚3(DB25针脚2) | 套管 | 信号地 | 电脑DB9针脚5(DB25针脚7) |
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以太网 | 标准以太网连接器(RJ-45) |
电源接口 | Hirose Electric生产的MQ172-3PA(55),配接插头:MQ172-3SA-CV。 |
其他线缆 | 16针接口(两排八脚,2 mm间距,Samtec产品编号ASP-135096-01) 和如下排线配套使用:Samtec产品编号TCMD-08-S-XX.XX-01; 上排为奇数针,下排为偶数针。右上为针1,右下为针2。 针号 | 名称 | 针号 | 名称 | 1 | SCA1 | 2 | SCA2 | 3 | SCA3 | 4 | SCA4 | 5 | SCA5 | 6 | SCA6 | 7 | SCA7 | 8 | SCA8 | 9 | AUX_IN_1 | 10 | AUX_OUT_1 | 11 | AUX_IN_2 | 12 | AUX_OUT_2 | 13 | IO2 | 14 | IO3 | 15 | GND | 16 | GND |
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通讯控制接口软件/固件 |
ADMCA | X-123可利用Amptek公司的ADMCA显示和采集软件来控制: - 能控制和设置X-123的各项参数,同时可以下载和显示数据;
- 支持感兴趣区域(ROI),标定,峰值搜索等;
- 包括一个接口程序,能与XRF-FP定量X射线分析软件包无缝连接。
- 在安装有Windows 98SE或更高版本的PC 兼容机上运行(仅32位),建议在 Windows XP PRO SP2或更高版本下运行。
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DPP API | X-123自带有一个DLL数据库类型的应用程序接口程序,用户可以方便地根据自己的需要采用该数据库编写特定的代码来控制X-123,并集成到上X软件系统中; 另外AMPTEK还提供了VB,VC++上API使用的范例以及一个Pocket PC版的Window CE。 |
VB示例软件 | 基于VB的示例软件可在个人计算机上运行,而用户通过该软件可设置 X-123的参数,开始和中断数据采集以及保存数据文件。AMPTEK可提供用户源代码以方便修改。该软件仅为在没安装DPP API软件时,通过USB/RS232,使用基本指令控制X-123的范例,特别对于必须自行编写控制软件的非Windows平台系统有参考意义。 |
可选配件:
1. 可定购其它厚度的铍窗(0.3 mil,即7.5 µm);
2. 高通量应用中所需的整套准直器;
3. 真空配件;
4. OEM应用。
图5. X-123探测器加长管配置选项
图6. 带有 PA-230前放的X-123和外壳。
该选项可认为是不接探测器/前放的 X-123(仅包含电子学部分),而所需连接通过软排线来完成,这样能够使探测器即使远离X-123也可以正常工作,参见OEM获取更多信息。
图7. Si-PIN和SDD探测器的能量分辨率和峰化/成形时间关系曲线。
图8. 在不同的峰化时间下,能量分辨率和输入计数率(ICR)的关系曲线。
图9. 计数率输出效率,输入计数率(ICR)和输出计数率(OCR)的关系曲线。
准直器的使用:
为了提高能谱的质量,Amptek 生产的大部分探测器都带有内部准直器。探测器X面元(active volume)边缘部分和X射线的相互作用会因不完全电荷收集产生一些小脉冲信号,进而影响测得的能谱数据。而且这些信号可能正处在用户所关心的元素所在的能量范围,降低了信噪比。而内部准直器则可以限制X射线只能打到X面元内,这就避免了噪声信号的产生。不同类型的探测器中准直器的应用各有X点:
1. 提高峰本比(P/B);
2. 消除边界效应;
3. 消除假尖峰信号。
点击这里获取更多信息。
真空应用:
X-123可以在空气或真空度达 10-8托的条件下使用。X-123通过一个标准的O圈刀口密封的接口和真空室连接,还可选用型号为EXV5/EXV9(5/9英寸长)的探测器真空加长管(如图5)。点击这里获得更多真空下应用的信息。
探测效率曲线:
图10(线性坐标). X-123对应的完全能量沉积的内禀探测效率。
该效率对应X射线进入该探测器前端并通过光电效应沉积所有能量到探测器上的概率。
图11(对数坐标). 考虑各种效应后的收集效率,其中也包含了光电效应的概率影响。
光电效应在低能段主导,而该效应对应了能量的完全沉积,但在X过40keV后,康普顿(Compton)散射效应逐渐显著,不是所有能量均沉积在探测器上。
上面两图同时考虑了铍窗(包括保护层)对X射线透过率的影响以及光子与硅探测器之间的相互作用。曲线的低能部分由铍窗的厚度决定,而高能部分则取决于硅探测器的X探测厚度。选用特定的铍窗,可使90%的能量为2到3keV的入射光子到达探测器;选用特定的探测器,可接收到90%的9到12keV 的光子。
传输效率文件:包含传输效率方面系数和常见问题解答的.zip格式文件,仅提供基本信息,不能作为定量分析依据。