东莞市豪恩检测仪器有限公司
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一、简介：电子元器件冲击测试台是唯一结合冲击试验与碰撞试验多功能设计的试验设备，采用全气动驱动，机构简单，可靠性高，碰撞波形好，操作简便。连续冲击试验效率高，碰撞频率X高可达60次/分，冲击试验X高测试速度可达10次/分。可执行单次冲击、连续冲击、间隔冲击，实现多种冲击模式，良好的重复性、低能耗设计、无污染、环保，且无须X地基固定。可执行常规的半正弦波后峰锯齿波等波形冲击试验
二、电子元器件冲击测试台符合国际测试规范：GJB150、GJB360、GJB548、GB/T2423、GJB1217、JJG497、MIL-STD-810F、IEC68-2-27、UL1642、UN38.3、GB18287等测试标准。
三、电子元器件冲击测试台设备特点：
1、采用气压驱动，结构简单、维护简便、可靠性高
2、通过调节气压控制冲击速度。
3、便捷的触摸屏操作。
4、可完成部分冲击试验。
四、设备组成：主机+控制器+冲击测量分析系统+加速度转感器+计算机+波形发生器+气压储能器+减震器等。
五、设备主要技术参数：
1、型号：HE-SKM-50
2、工作台面尺寸： 500×600mm
3、X大负载：50Kg
4、X大峰值加速度：5～100G
5、脉冲持续时间：18～3ms
6、试验类型：半正弦波
7、可扩展后峰锯齿波：30G/11ms
8、跌落高度：0～800mm
9、碰撞重复频率：10～100 次/分
10、设备尺寸：950×960×1200mm
11、设备重量：780Kg
12、使用电源：AC 220V 50HZ
13、气压要求：5～7Kg/cm²(气源即空压机用户自备）
14、流量：>0.9m³/min
15、工作环境：环境温度：5℃-40℃
16、相对湿度：≤90%（25℃）
17、周围环境：无腐蚀性介质，干燥通风,影响正常工作的电磁场干扰及强烈的振动源。
