X声波测厚仪是根据X声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的X声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头通过X测量X声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使X声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
AR850 X声波测厚仪 - 普通型
产品简介
X声波测厚仪是根据X声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的X声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过X测量X声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使X声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。
适合测量金属(如钢、铸铁、铝、铜等)、塑料、陶瓷、玻璃、玻璃纤维及其他任何X声波的良导体的厚度。
技术参数
测量范围 | 1.2-220mm |
测量误差 | ±(1%H±0.1)mm |
分辨率 | (<100mm)0.1mm |
声速调节范围 | 1000-9999m/s |
工作频率 | 5MHz/2.5MHz |
工作温度范围 | 0-45℃ |
探头工作温度 | 常温型 0~60℃ 高温型 0~250℃ (需配高温耦合剂) |
管材测量下限 | Ф10mm probe:Ф20*3mm(钢) |
数据存储功能 | 有 |
反測聲速功能 | 有 |
LCD背光显示 | 有 |
上下限报警功能 | --- |
低电指示 | 有 |
自动关机功能 | 有 |
包装规格
电源 | 3*1.5AAA 电池 |
产品净重 | 1230g |
产品尺寸 | 70*145.5*28mm |
包装方式 | 铝箱包装 |
标准外箱容量 | 12PCS |
标准外箱尺寸 | 52*43*32.5cm |
标准外箱毛重 | 15.5KG |
影响X声波测厚仪的指标因素编辑
1、X声波测厚仪所测工件表面粗糙度过大,造成探头与接触面耦合效果差,反射回波低,甚至无法接收到回波信号。对于表面锈蚀,耦合效果极差的在役设备、管道等可通过砂、磨、挫等方法对表面进行处理,降低粗糙度,同时也可以将氧化物及油漆层去掉,露出金属光泽,使探头与被检物通过耦合剂能达到很好的耦合效果。
2、检测面与底面不平行,声波遇到底面产生散射,探头无法接受到底波信号。
3、工件曲率半径太小,尤其是小径管测厚时,因常用探头表面为平面,与曲面接触为点接触或线接触,声强透射率低(耦合不好)。可选用小管径X探头,能较X的测量管道等曲面材料。
4、探头接触面有一定磨损。常用测厚探头表面为丙烯树脂,长期使用会使其表面粗糙度增加,导致灵敏度下降,从而造成显示不正确。可选用500#砂纸打磨,使其平滑并保证平行度。如仍不稳定,则考虑更换探头。