關(guān)于 IC測(cè)試好壞 結(jié)果1

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本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)16649.1等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn)。該產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)廠家、大專院校以及技術(shù)質(zhì)量監(jiān)督等單位，深受廣大客戶的信賴。

IC芯片冷熱循環(huán)沖擊氣流測(cè)試機(jī)

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